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Dimension XR系列扫描探针显微镜仪器,集成了过去几十年的研究和技术创新经验,为纳米力学、电学、电化学等先进研究领域的表征工作提供了独有的功能模块方案,使得对空气、液体或电化学环境里的材料和纳米 系统的定量表征更加简便。
Dimension Icon是世界范围内广泛采用的大样品台AFM设备,拥有业界领先的可扩展性、卓越的性能表现和测量效率。
快速/高效
- 业界在扫描速度、分辨率、热漂移和噪声水平上达到均衡的标杆产品
- 快扫和自动化模式可将大量测试集成在预设模式下,达到卓越的测试效率
- 同一个AFM平台上的多种关联测量技术和模式,适用多种样品尺寸或多个样品,无可比拟的可扩展性
商用高分辨率
Dimension XR 原子力显微镜系统与独有的 PeakF0rce SECM探针结合,提供小于100nm的空间分辨率,该模式提供了对纳米颗粒,纳米相以及纳米微孔研究的新的方式,达到了商用仪器上高的灵敏度与空间分辨率。
优秀的多功能性
可根据您具体的研究要求为 Dimension XR 系统进行配置和添加功能,以满足现在或者将来的应用需求。结合 Bruker 多项 AFM 方面的专利技术和模式,以及模式增强功能,Dimension XR 系统提供了卓越的仪器性能和出众的测量表现,帮助您在纳米研究领域更上一层楼。
上海尔迪仪器科技有限公司
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