深圳市X-Strata920镀层膜厚仪代理厂家

库存 ：10台

保修期 ：1年

现货状态 ：1台

供应商 ：深圳市谱赛斯科技有限公司

规格 ：610*1037*375mm

镀层膜厚仪用途用途：
1、电子行业：
测量PCB、FPC、LED、SMD、连接器、天线、半导体、电阻电容、等元气件，确保元件可分析导电性镀靠性，测量焊料合金成分和镀层厚度，优化质量控制，确保产品生命期。如：
层金、钯厚度；测量电脑硬盘上的NiP层的厚度
2、五金电镀行业：
测量螺栓、螺母、弹簧类紧固件、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件，快速简单的分析，同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析，最多分析4层镀层
3、其他行业：
测量珠宝、首饰、装饰品、合金等的金属合金成分分析、牌号认定，进行材料鉴定
珠宝及合金的无损分析，进行黄金纯度分析、合金成分分析。
膜厚仪测量样品台配置：
1、固定台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制,样品台高度固定，测量最大样品高度33mm,仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（不含电脑和显示器）。
2、加深式样品台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制，样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm，最大样品高度160mm，样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm，仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(不含电脑和显示器)
自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm。
3、全自动样品台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制，可提供对样品的自动和编程控制，多点测量，鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点，测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式，样品台移动行程：178×178mm，样品台尺寸：宽610×深560mm，最大样品高度33mm，仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)。
膜厚仪测试原理：
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
X射线系统
垂直下照式X射线光学系统，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑
准直器
单准直器组件；多准直器自动控制组件：最多可同时装配6种规格的准直器；圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）

圆形	mil	4	6	8	12	13	20
	mm	0.102	0.152	0.203	0.305	0.33	0.508
矩形	mil	1x2	2x2	0.5x10	1x10	2x10	4x16
	mm	0.025x0.05	0.05x0.05	0.013x0.254	0.254x0.254	0.051x0.254	0.102x0.406

X-Strata920 – 性价比高，无损可靠

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。