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ChronosDFD 用于复式衰减荧光寿命测试小于1s
ChronosDFD通过Vinci软件实现全自动控制,操作环境友好,基于Windows系统的软件控制包。
ChronosDFD 能够测量荧光和转动相关时间复合荧光寿命衰减,测量精度皮秒级,测量时间少于一秒钟。创新性仪器设计具有多种开创性应用:能够短时测量荧光寿命衰减时间,可用来测量快速动力学过程;停流装置中混合物衰减时间和色谱分析;采样品在最短时间曝光下采集荧光寿命,以防光照使得样品光褪色。
工作原理:
ChronosDFD使用独特的数字频域技术设计,光源(激光二极管和LED)通过2ns周期的方形脉冲信号调制,重复率用户可自选,范围0.05Hz-80MHz。频率信号包含重复率基频和其谐波可达三十,比如,当基频为10MHz时,其谐波将产生在20,30,40和最高300MHz。光子检测器根据其独立的相位偏移和相位解调,而独立检测的。相位偏移和解调通过相位直方图完成,通过相位直方图即可得到时间衰减。
ChronosDFD通过Vinci软件实现全自动控制,操作环境友好,基于Windows系统的软件控制包。
ChronosDFD 能够测量荧光和转动相关时间复合荧光寿命衰减,测量精度皮秒级,测量时间少于一秒钟。创新性仪器设计具有多种开创性应用:能够短时测量荧光寿命衰减时间,可用来测量快速动力学过程;停流装置中混合物衰减时间和色谱分析;采样品在最短时间曝光下采集荧光寿命,以防光照使得样品光褪色。
工作原理:
ChronosDFD使用独特的数字频域技术设计,光源(激光二极管和LED)通过2ns周期的方形脉冲信号调制,重复率用户可自选,范围0.05Hz-80MHz。频率信号包含重复率基频和其谐波可达三十,比如,当基频为10MHz时,其谐波将产生在20,30,40和最高300MHz。光子检测器根据其独立的相位偏移和相位解调,而独立检测的。相位偏移和解调通过相位直方图完成,通过相位直方图即可得到时间衰减。
ChronosDFD 主要特点:
- 灵活配置,可选光源(laser diodes, LEDs 和Ti:Sapphire laser)
- 体积小巧,光路短,且能到到最大灵敏度和光照效率。
- 毫秒至皮秒荧光寿命测试能力。
- 全自动化仪表组件:透明小容器,偏振器,快门,滤光轮,单色仪和搅拌器。
- PC-控制集成恒温仪,滴定仪,停流设备和压力泵
- 可升级包含稳态测试
- T-型和平行光束设计,已达到快速高精偏振测量
- 由 Vinci-Multidimensional 荧光光谱仪提供技术驱动
频域下获得数据的特点:
- 荧光寿命的计算取决于两个测量参数:相位角和调制
- 测量更快和更少操作
- 允许一步测量各向异性衰减(rotational correlation times)
- 优秀的短时寿命分辨
- 基于荧光寿命传感和实时采集的一种方法选择,可在毫秒时间范围内实现高采集率。
光源 |
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调焦&采集结构 | 平行光束设计以实现高精偏光测量 |
偏光器 | UV grade Glan-Thompson with L/A=2.0 |
检测器 |
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检测模式 | 光电子计数 |
波长范围 | 200 nm- 1700nm (与探测器有关) |
最大计数范围 | 可达1300万counts/s (使用混合式探测器) |
荧光寿命测量范围 | 10-12 s- 10-2 s, (软件控制可选) |
操作系统 | Windows 10 |
电源 | 通用电源输入: 110-240 V, 50/60 Hz, 400 VAC |
尺寸 | 540 mm (L) x 425 mm (W) x 235 mm (H) |
重量 | 25 kg |
北京培科创新技术有限公司
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