透射电镜TEM测试_TEM检测

TEM测试原理

透射电子显微镜（缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品

上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角 散射。散射角的大小与样品的密度、

厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。

仪器技术参数

　　- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm

　　- 样品最大倾角 +/- 70°

　　- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备

　　- 全自动化的数据采集和数据处理系统

透射式电子显微镜

技术指标：

点分辨率≤0.24nm

放大倍数：最小25倍，最大≥ 1,000,000倍

能谱仪(EDS)：分辨率优于136eV (Mn Ka线)

分析元素范围：B5-U92

数字化CCD照相系统：感应尺寸：4k×2.7k像素

像素大小≥9um×9um；动态范围≥14-bit

功能用途：

用于纳米载药颗粒和纳米诊断探针等纳米材料的尺寸、形貌、结构和成分分析。

送样要求

粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.

应用领域

金属、非金属及复合材料的观察分析；

纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计；

微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图；

可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量；

机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。

启威测材料测试平台：

1、可测试的材料：金属材料、无机非金属材料、聚合物复合材料；

2、材料微观形貌和分析：FT-IR SEM EDS AFM TEM

3、材料导热系数、热机械性能分析；

4、材料粒度、密度、接触角、比表面积等物理性能表征；

5、材料光谱吸收特性分析。

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