InspectTM系列扫描电镜-FEI-SEM-TEM聚焦离子束 (FIB) 系统，纳米级探测、形貌观察、微区成分分析

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'InspectTM系列满足传统高分辨率样品研究所需的一切，简单易用的 InspectTM 专为满足研究各类材料以及表征材料结构和成分的主流需求而设计，配备高稳定分辨率平台，可满足大多数研究的需要。简单易用的界面可实现准确、快速的数据收集：将表面形貌和成分图像与快速元素分析结合，确定材料特性及其化学元素组成。在众多领域，高分辨率和高电流 FEG 扫描电镜的价值在于有助应对生成高品质图像和实施快速分析的挑战。
Inspect系列是这些基础研究应用领域主流而灵活的解决方案。用户界面简单、易学且灵活，足以应对复杂环境内不同项目个别研究需求不同的挑战。例如，标准导航功能包括样品台移动双击控制和拖放变焦。SmartSCANTM技术采用针对困难样品的智能扫描策略，可减少噪声，提供优质的数据。该仪器系列的设计源于显微镜工作者，并用于显微镜工作者，是一款真正超越仅有“易用性”的产品。
许多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可实现特定的表征。诸如射束减速等新功能可将传统 FEG 扫描电镜的低加速电压性能提升至全新的高度。Nav-Cam™ 彩色图像导航和新探测器令 InspectTM系列 具备更大的灵活性。更优质的数据、更大的灵活性、更高的效率，InspectTM 可实现快速简单的操作，迅速获知答案，实现投资价值。- 易用且直观的软件可确保初学者也能进行高效操作
- 轻松表征导电和绝缘样品（S50 型）
- 确保使用稳定的高电流 FEG （最高 200 nA）进行快速、准确的 EDS 和 EBSD 分析（F50 型）
- 使样品制备数量降至最小： 低真空可实现绝缘样品的非荷电成像和分析（S50 型）
- 大幅减少更改加速电压 (kV) 时对镜筒的调整。 所有调整均会依据用户选择的加速电压及/或照射点设置自动执行（F50 型）
- 确保在高真空和低真空条件下进行准确的导电和绝缘样品 EDS 和 EBSD 分析， 使用“经由透镜”抽气技术创造高真空和低真空环境（S50 型）
- 利用可选射束减速模式获取导电样品的表面和成分信息（F50 型）