AFM探针形状检测样品

库存 ：大量

规格 ：片

AFM探针使用中存在的问题

AFM针尖远远不足于理想中的针尖那样锐利。因此，任何一个原子力显微镜图像不是真实反映样品的形貌，还有针尖与样品表面尖端之间的互动。这是无法避免的，但是可以从一个AFM图像有效的推断出真正的形貌。

无论使用AFM图像作为细节的测量，定量的计量或只是最为一个辅助性的表征。一个能够准备评估这些影响的体系是十分重要的。

这里的关键是拥有一对尖顶点清晰度可靠的估计。反向成像获得的探测有效半径的最便捷的方式。为此，理想的表征样品，应该有小，坚硬，有针的功能。

一个使用有效的解决方案是NioProbe

NioProbe能够提供如下有点：

1、NioProbe薄膜的表面结构是一高密度的小高峰。这使得薄膜适合精密的AFM工作特点，非常小的压电运动。
2、特征峰的半径都小于5nm，小于市场上任何其他的同类产品。
3、该样品允许从小范围到中等范围（如生物分子）地准确的测量顶点半径。
4、该样品随机取向的特点适合采用盲端重建方法。
5、该样品耐磨损，可使用接触模式进行扫描。

NioProbe的薄膜是在一个硅片上的芯片，随时可以放置在AFM上使用。有详细的技术文档提供测量顶点半径的方法。

本样品在清洁，干燥的地方保存，可以使用多年。

http://www.hanstech.cn/Pro/supplies/Standards/NioProbe-Aurora.html